SpecMetrix® 高级实验室涂层厚度测量系统

由SpecMetrix提供，工业物理旗下专业的涂层测试品牌，致力于创新的涂层厚度测量。

SpecMetrix®高级实验室涂层厚度测量系统为用户提供了高标准的非接触、非破坏性和实时涂层及样品涂层厚度测量。

简化质量控制流程

SpecMetrix®高级实验室涂层厚度测量系统旨在简化质量控制流程。由于其****的能力，能够以亚微米级精度识别和量化**薄涂层或层厚度，它是我们**的实验室测量工具之一。

SpecMetrix高级实验室系统加速了离线样品测试，并改善了来料和成品检验。它是多个行业和应用中受到质量控制实验室信赖的系统之一。

多功能测量能力

SpecMetrix®高级实验室涂层厚度测量系统是一个极其多功能的系统，允许用户测量几乎任何涂层或涂覆层。

• 湿涂层或干涂层

• 清晰、着色或有色涂层

• 适用于任何基材的涂层，几乎适合任何行业，包括柔性包装、汽车和工业

• 广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层，或亚微米级的离散层

• 模块化设计，具有从质量控制实验室到生产车间的即时测量能力

高精度、即时测量

SpecMetrix®高级实验室系统在单点和扫描模式下提供高精度的非接触样品测试。它提供超精确和实时的涂层及层厚度测量，以帮助加速样品测试、数据收集和质量分析。

完整的涂层洞察

凭借SpecMetrix精确和创新的ROI增强光学干涉技术，用户可以获得样品的完整涂层测量数据。我们的技术将允许您通过非接触和非破坏性手段获得涂层测量。

该技术也很安全——无放射性和无侵入性。我们专利（美国专利号 6,674,533、7,128,985、7,274,463、7,365,865 和 7,537,681，发明专利）的**光学技术高度先进，并在整个涂层行业中得到广泛应用。

强大的SensorMetric软件

作为测量分析的核心部分，我们用户友好的软件包将所有测量数据存储到Excel®中，或与工厂网络接口，以便在生产运行期间或之后进行SPC分析。

此外，我们的软件还包括一个配方助手，帮助操作员创建新的涂层配方并编辑现有配方。

可选的系统配置

请与我们的专家团队讨论您的配置要求。我们可以建议**化您实验室或生产线需求的**系统。无论是完全离线、周期性在线还是完全在线系统——我们都可以提供适合您需求的测量系统。

功能和优点

• 灵活快速 – 模块化设计，具有从质量控制实验室到生产车间的即时测量能力。

• 非接触式 – 测量过程不接触涂层或基材，保持样品和部件的完整性。

• **厚度测量 – 超高精度的实时涂层和层厚度测量，加速样品测试、数据收集和质量分析。基材独立 – 适用于透明、有色或着色基材的湿样或干样测量。

• 广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层，或亚微米级的离散层。

• 无危害性 – 采用独特的非放射性和非侵入性的ROI和EXR光学技术。

• 环保 – 非破坏性测试方法减少废料、返工劳动力和能源成本。

• 强大的SensorMetric软件 – 用户友好的软件包自动将所有数据存储到Excel®或工厂网络中。

技术参数