SpecMetrix® FWS 膜重测试站

由SpecMetrix提供，工业物理旗下专业的涂层测试品牌，致力于创新的涂层厚度测量。

SpecMetrix®膜重测试站提供了非接触、非破坏性、实时的离线厚度测量测试，适用于涂层样品和平板薄膜。膜重测试站具有高度精确和快速的特点，通过单点和扫描模式进行厚度测试。

此外，它还可以在实验室或涂布线上对干涂层薄膜或卷带进行自动化的长度和宽度扫描测量。

简化质量控制流程

SpecMetrix®膜重测试站旨在简化质量控制测试，并改善对膜重和涂层厚度的过程控制。由于其****的能力，能够以亚微米级精度识别和量化**膜重厚度，它是我们**的实验室测量工具之一。

膜重测试站系统加速了离线薄膜测试，并改善了来料和成品检验。

多功能测量能力

SpecMetrix®膜重测试站提供可靠且可重复的测量：

• 精确快速地分析膜重

• 非接触、非破坏性测量 – 确保样品的完整性

• 测量湿样或干样，以及透明或有色着色基材

• 广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层，精度可达到亚微米级

完整的涂层洞察

SpecMetrix®膜重测试站提供了可靠性和可重复性，允许用户获取准确的涂层测试数据和质量控制。

凭借SpecMetrix的精确和创新的ROI增强光学干涉技术，用户可以为其产品和样品获取完整的膜重和涂层测量数据。我们的技术将允许您通过非接触和非破坏性手段获得涂层测量。

该技术也非常安全——无放射性和无侵入性。我们专利（美国专利号 6,674,533、7,128,985、7,274,463、7,365,865 和 7,537,681，发明专利）的**光学技术高度先进，并在涂层行业中广泛应用。

强大的SensorMetric软件

作为测量分析的核心部分，我们用户友好的软件包将所有测量数据存储到Excel®中，或与工厂网络接口，以便在生产运行期间或之后进行SPC分析。

此外，我们的软件还包括一个配方助手，帮助操作员创建新的涂层配方并编辑现有配方。

可选的系统配置

SpecMetrix®膜重测试站设计为模块化，因此可以轻松重新配置或升级系统以满足您的测试和测量需求。

请与我们的专家团队讨论您的测试和测量要求。我们可以为您的实验室或生产线需求建议**系统解决方案。无论是完全离线、周期性在线还是完全在线系统——我们都可以提供适合您需求的测量系统。

功能和优点

• 灵活快速 – 模块化设计，具备从质量控制实验室到生产车间的即时膜重测量能力。

• 非接触式 – 测量过程中不接触涂层或基材，保持样品和部件的完整性。

• **厚度测量 – 超高精度的实时涂层和膜厚度测量，加速样品测试、数据收集和质量分析。基材独立 – 适用于湿样或干样的透明、有色或着色基材的测量。

• 广泛应用 – 实时测量单层或双层涂层，精度达到亚微米级。

• 高度精确 – 相比浮动探头，膜重测量工具更快且更精确。

• 无危害性 – 采用独特的非放射性和非侵入性的ROI和EXR增强光学干涉技术。

• 环保 – 非破坏性测试方法有助于减少废料、返工劳动力和能源成本。

• 强大的SensorMetric软件 – 用户友好的软件包自动将所有数据存储到Excel®或工厂网络中。

技术参数