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无损卷封检测系统SEAMscan XTS III
产品介绍
SEAMscan XTS III 无损卷封检测系统
新的 SEAMscan XTS III 第 3 代 XTS 是一个独立的测量系统,来自工业物理旗下德国 CMC-KUHNKE 品牌,这是一款完全自动化的独立测量系统,能够提供快速且精准的测试结果。 这是我们零废弃、节约成本的二重卷封检测解决方案的第三代产品,也是全球前十饮料公司新生产线和技术升级的**检测设备。 独特的径向测量技术 SEAMscan XTS III采用独特的径向测量系统,而非传统的切向方法,为您提供最精确的单点测量,用于客观检测皱褶度和监测卷封紧密度。 安全的二重卷封检测 SEAMscan XTS III安全且操作简便。罐体会轻松且系统化地通过一系列测量站和检查点。 SEAMscan XTS III可实现精确的二重卷封测量,包括:卷封高度,卷封间隙,身钩,盖钩,叠接度,身钩率,迭接率,紧密度。它能显著提高检测精度,同时减少人工成本和浪费,为您节省时间和**。 这款**型号配备了新一代图像处理技术,具有更高的操作便捷性、灵活性和精度。 比传统截面方法更快、更安全 相比传统的截面分析方法,它更快速且更安全,避免了接触卷封锯、金属毛刺或拆解风险。单点检测设置消除了对焦问题,并支持测量更大直径的罐盖。 采用专利技术的SEAMscan XTS™ X射线紧密度扫描仪,无需人员参与检测,能耗更低,采用无损伤的X射线检测二重卷封内部结构。(专利号:DE102008053825A1,发明专利 ) 卷封检测数据采集 通过附带的电源线,您可以轻松将卷封检测结果下载到电脑进行进一步分析。 我们的双重卷封检测设备与Visionary QC™ SPC软件无缝连接,支持通过SPC图表追踪趋势和统计数据。被全球数千家公司广泛使用,该设备能即时采集和追踪数据,并以触屏形式直观展示,易于阅读和理解。 X射线紧密度扫描仪检测二重卷封结构尺寸,以及全球专利技术精确的测量卷封内部的皱纹度。盖钩皱纹度的检测结果会自动发送到电脑数据库,电脑可以实时显示卷封质量变化趋势分析结果。 专用的X射线穿过二重卷封,探测盖钩形状的微妙变化。电脑通过程序算法分析卷封内部各个部位的变化情况,以确定是否对卷封的密封情况造成影响。检测结果可以使紧密度百分比,亦或是皱纹度或紧密度平均值的形式显示。 通过行Virtual Seam Teardown™(卷封虚拟拆卸)功能,可以看到身钩和盖钩彼此叠接的真实情况,是以往无法想象的。 **的X射线屏蔽 使用SEAMscan XTS III二重卷封检测工具时,您将受到优质的X射线屏蔽保护(通过TÜV Rheinland认证,辐射量低于每年0.1 mSv)。 易于清洁的卷封检测设备 SEAMscan XTS III专为便捷清洁、校准和维护而设计,新增排水功能,清洁更方便,同时提供270°的优越可及性以便维护。 二重卷封检测设备 在工业物理的产品组合中,我们提供各种二重卷封检测工具及配件。您是否知道,我们还专门为气雾罐设计了双重卷封检测设备?此外,别忘了查看我们的AUTO-XTS,这是一款全自动在线或独立测量系统。 功能和优点
技术参数
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Industrial Physics工业物理公司
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