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电磁干扰去耦夹EMID 150K
型号:EMID 150K


产品介绍

EMID 150K电磁干扰去耦夹用于射频场感应的传导骚扰抗扰度(GB/T 17626.6-2017、 IEC 61000-4-6-2013)测试中辅助设备端射频信号的去耦。可以对150 kHz-230 MHz信号进行有效衰减,保证辅助设备正常工作。本产品采用卡扣式结构,可以直接套在待去耦的线缆上,使用方便。同时去耦夹还具有与去耦线缆物理隔离的特点。

技术参数

频率范围

150 kHz-230 MHz

衰减系数*

≥4 dB@150

kHz,≥20 dB@230 MHz

可通过线缆直径

38 mm

尺寸

520 mm(长)×130

mm(宽)×120 mm(高)

工作温度

0℃~65℃

重量

7.5 kg

*

在附图所示的测试条件下得出。

附图:EMID 150K电磁干扰去耦夹衰减系数测试原理框图

苏州泰思特电子科技有限公司
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